XRF镀层测厚仪工作原理
镀层测厚仪EDX8000B是将X射线照射在样品上,通过从样品上反射出来的第二次X射线的强度来测量镀层等金属薄膜的厚度,因为没有接触到样品且照射在样品上的X射线能量很低,所以不会对样品造成损坏。同时,测量的也可以在10秒-30秒内完成。
以上信息由专业从事膜厚仪EDX8000T型XRF镀层测厚仪的英飞思科学于2025/3/31 18:09:16发布
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来源:英飞思科学 更新时间:2025-03-31 18:09:16
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XRF镀层测厚仪工作原理
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